Выборка по ключевым словам

• high-resolution x-ray diffraction1
• secondary ion mass spectroscopy1
• sige1
• thin films1
• высокоразрешающая рентгеновская дифракция1
• легирование бором1
• масс-спектроскопия вторичных ионов1
• тонкая пленка1

Выборка по автору

• m. . faheem1
• x. . dai1
• y. . zhang1

Выборка по журналу

Выборка по дате публикации