Поиск

Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала

Журналов: Статей:

Поиск

Дополнительные фильтры

Всего найдено22

АвторУдалить

ЖурналУдалить

Добавить фильтр

01.01.1970

Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе

В. П. Гавриленко; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; А. В. Раков; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов; В. А. Шаронов

Название журнала на русском

01.01.1970

Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения

А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; В. И. Панов; А. А. Ежов; Д. А. Музыченко

Название журнала на русском

01.01.1970

Образование окисной пленки на поверхности кремниевой рельефной структуры в процессе плазменной очистки

В. П. Гавриленко; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов; Д. А. Карабанов

Название журнала на русском

01.01.1970

Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

Д. С. Бодунов; В. П. Гавриленко; А. В. Заблоцкий; А. А. Кузин; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; А. В. Раков; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов

Название журнала на русском

01.01.1970

Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе

А. Н. Амрастанов; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; Е. В. Серегина; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов

Название журнала на русском

01.01.1970

Измерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновским спектрам при энергодисперсионной регистрации

В. П. Гавриленко; А. В. Заблоцкий; С. А. Корнейчук; А. Ю. Кузин; Т. А. Куприянова; О. И. Лямина; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов; В. Я. Шкловер

Название журнала на русском

01.01.1970

Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом

В. П. Гавриленко; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов

Название журнала на русском

01.01.1970

Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе

А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов

Название журнала на русском

01.01.1970

Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов

А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; В. И. Панов; А. И. Орешкин

Название журнала на русском

01.01.1970

Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров

М. А. Запорожец; В. В. Волков; С. Н. Сульянов; Е. Г. Рустамова; С. П. Губин; В. Б. Митюхляев; А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; А. С. Авилов

Название журнала на русском

Страница 2 из 3