Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
electron probe x-ray microanalysis method
1
ellipsometry
1
low-voltage electron probe x-ray microanalysis
1
monte carlo method
1
nanofilm
1
oxide layer
1
thichness
1
thickness
1
thickness measurement
1
thin films
1
измерение толщины
1
метод монте-карло
1
наноплёнки
1
низковольтный электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ
1
оксидная пленка
1
тонкие пленки
1
электронно-зондовый метод
1
эллипсометрия
1
Выборка по автору
м. н. филиппов
3
п. а. тодуа
3
в. б. митюхляев
2
в. п. гавриленко
2
м. а. степович
2
а. в. заблоцкий
1
а. с. батурин
1
в. с. бормашов
1
с. а. дарзнек
1
с. а. зайцев
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
3
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Ключевые слова
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий
А. С. Батурин; В. С. Бормашов; В. П. Гавриленко; А. В. Заблоцкий; С. А. Зайцев; А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
01.01.1970
Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом
С. А. Дарзнек; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
01.01.1970
Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом
В. П. Гавриленко; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных