Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
low-voltage electron probe x-ray microanalysis
1
monte carlo method
1
nanofilm
1
relief structure
1
surface profiler
1
thickness measurement
1
three-dimensional reconstruction in sem
1
измерение толщины
1
метод монте-карло
1
наноплёнки
1
низковольтный электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ
1
профилометр
1
растровый электронный микроскоп
1
рельефная структура
1
трёхмерная реконструкция
1
Выборка по автору
в. б. митюхляев
2
м. н. филиппов
2
п. а. тодуа
2
д. а. карабанов
1
м. а. степович
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
2
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом
С. А. Дарзнек; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; М. А. Степович; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
01.01.1970
Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе
С. А. Дарзнек; Д. А. Карабанов; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных