+7 (499) 754-99-94
Журналов:     Статей:        
Главная Поиск
Дополнительные фильтры
Всего найдено2
01.01.1970
Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения
А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; В. И. Панов; А. А. Ежов; Д. А. Музыченко
Название журнала на русском
01.01.1970
Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов
А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; В. И. Панов; А. И. Орешкин
Название журнала на русском

115114, Москва, ул. Летниковская, д. 4, стр. 5,
офис 2.4, тел.\факс: +7 (499) 754-99-93

Политика обработки персональных данных

© 2013 - 2025 Elpub