Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
calibration
1
certified reference materials
1
ellipsometry
1
langmuir-blodgett films
1
small-angle x-ray diffractometers
1
thichness
1
thin films
1
калибровка
1
ленгмюровские пленки
1
малоугловые рентгеновские дифрактометры
1
стандартные образцы
1
толщина
1
тонкие пленки
1
эллипсометрия
1
Выборка по автору
п. а. тодуа
2
а. в. заблоцкий
1
а. с. авилов
1
а. ю. серегин
1
в. б. митюхляев
1
в. в. волков
1
в. п. гавриленко
1
в. с. бормашов
1
е. ю. терещенко
1
м. а. ермакова
1
м. а. марченкова
1
м. н. филиппов
1
с. а. зайцев
1
с. н. сульянов
1
ю. а. дьякова
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
2
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий
А. С. Батурин; В. С. Бормашов; В. П. Гавриленко; А. В. Заблоцкий; С. А. Зайцев; А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
01.01.1970
Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии
А. С. Авилов; А. С. Батурин; В. В. Волков; Ю. А. Дьякова; М. А. Ермакова; А. Ю. Кузин; М. А. Марченкова; В. Б. Митюхляев; А. Ю. Серегин; С. Н. Сульянов; Е. Ю. Терещенко; П. А. Тодуа
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных