Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
transmission electron microscope
2
просвечивающий электронный микроскоп
2
calibration
1
crystalline relief nanostructure
1
monocrystal silicon
1
reference material
1
scale factor
1
калибровка
1
кристаллическая рельефная наноструктура
1
масштабный коэффициент
1
монокристаллический кремний
1
стандартный образец
1
Выборка по автору
а. в. заблоцкий
2
д. с. бодунов
2
п. а. тодуа
2
а. а. кузьмин
1
а. в. раков
1
а. с. авилов
1
в. б. митюхляев
1
в. п. гавриленко
1
м. н. филиппов
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
2
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа
А. В. Заблоцкий; А. С. Авилов; Д. С. Бодунов; А. А. Кузин; А. Ю. Кузин; А. А. Кузьмин; П. А. Тодуа
Название журнала на русском
01.01.1970
Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов
Д. С. Бодунов; В. П. Гавриленко; А. В. Заблоцкий; А. А. Кузин; А. Ю. Кузин; В. Б. Митюхляев; А. В. Раков; П. А. Тодуа; М. Н. Филиппов
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных