Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
diffraction grid
1
pyrolytic graphite
1
scanning near-field optical microscope
1
дифракционная решетка
1
пиролитический графит
1
сканирующий оптический микроскоп ближнего поля
1
Выборка по автору
в. и. панов
1
д. а. музыченко
1
п. а. тодуа
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
1
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения
А. Ю. Кузин; П. А. Тодуа; В. И. Панов; А. А. Ежов; Д. А. Музыченко
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных