Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
ald
1
certified reference materials of spatial characteristics
1
multilayer films
1
x-ray reflectometry
1
метод атомно-слоевого осаждения
1
рентгеновская рефлектометрия
1
стандартные образцы пространственных характеристик
1
Выборка по автору
а. м. маркеев
1
а. с. батурин
1
в. с. бормашов
1
е. а. морозова
1
е. в. коростылев
1
м. а. ермакова
1
п. а. тодуа
1
с. а. морозов
1
с. с. зарубин
1
Выборка по журналу
название журнала на русском
1
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
1
Автор
Удалить
Ключевые слова
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Стандартные образцы пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий
А. С. Батурин; В. С. Бормашов; М. А. Ермакова; Е. А. Морозова; С. А. Морозов; Е. В. Коростылев; С. С. Зарубин; А. М. Маркеев; П. А. Тодуа
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных