Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
height measure
1
interference microscope
1
monoatomic layer
1
subnanometer range
1
white light interferometry
1
интерференционный микроскоп
1
интерферометрия белого света
1
мера высоты
1
моноатомный слой
1
субнанометровый диапазон
1
Выборка по автору
в. л. минаев
1
д. в. щеглов
1
Выборка по журналу
название журнала на русском
1
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
1
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Измерение профиля поверхности моноатомной многослойной наноструктуры кремния интерференционным методом
В. Л. Минаев; Г. Г. Левин; А. В. Латышев; Д. В. Щеглов
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных