Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
контроль субмикронной топологии
1
оптическая и атомно-силовая микроскопия
1
Выборка по автору
басалаев, с. п.
1
кузнецова, т. а.
1
пилипенко, в. а.
1
суслов, а. а.
1
худолей, а. л.
1
чикунов, в. в.
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
2015
1
Дополнительные фильтры
Всего найдено
1
Автор
Удалить
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Добавить фильтр
30.03.2015
КОМПЛЕКС ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ СУБМИКРОННОЙ ТОПОЛОГИИ КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
Чижик, С. А.; Басалаев, С. П.; Пилипенко, В. А.; Худолей, А. Л.; Кузнецова, Т. А.; Чикунов, В. В.; Суслов, А. А.
Приборы и методы измерений
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных