Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
диэлектрическая матрица
1
нанокристаллы кремния
1
рентгенодифракционный метод
1
Выборка по автору
белов, а. и.
1
ершов, а. в.
1
занин, и. е.
1
михайлов, а. н.
1
панков, к. н.
1
спирин, д. е.
1
терехов, в. а.
1
тетельбаум, д. и.
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
2015
1
Дополнительные фильтры
Всего найдено
1
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Ключевые слова
Удалить
Добавить фильтр
15.03.2015
ДИФРАКЦИОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ В СТРУКТУРАХ SiOx/Si С ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ УГЛЕРОДА
Терехов, В. А.; Тетельбаум, Д. И.; Занин, И. Е.; Панков, К. Н.; Спирин, Д. Е.; Михайлов, А. Н.; Белов, А. И.; Ершов, А. В.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных