Выборка по ключевым словам

• calibration1
• certified reference materials1
• nanoparticles1
• small-angle x-ray diffractometers1
• transmission electron microscope1
• калибровка1
• малоугловые рентгеновские дифрактометры1
• просвечивающий электронный микроскоп1

Выборка по автору

• а. с. авилов1
• а. ю. кузин1
• в. б. митюхляев1
• в. в. волков1
• е. г. рустамова1
• м. а. запорожец1
• п. а. тодуа1
• с. н. сульянов1
• с. п. губин1

Выборка по журналу

• название журнала на русском1

Выборка по дате публикации