Система комплексной
поддержки и сопровождения
научного журнала
+7 (499) 754-99-94
DOI / Crossref
Журналы на платформе
Порталы на платформе
Экспертиза сайта
Контакты
Поиск
Что мы предлагаем
Для кого
Что даёт
Почему ELPUB
Стоимость
База знаний
COVID-19
Нейроассистент
Искать
Журналов:
Статей:
Главная
Поиск
Фильтры
Выборка по ключевым словам
537.533:620.187:539.25 нанометрология
1
calibration
1
laser tracker
1
total station electronic
1
verification
1
лазерный трекер
1
поверка
1
разрешение
1
сканирующая зондовая микроскопия
1
электронный тахеометр
1
Выборка по автору
в. а. хижняков
1
в. в. соловьев
1
к. л. губский
1
н. х. голыгин
1
п. н. лускинович
1
с. ю. золотаревский
1
Выборка по журналу
Выборка по дате публикации
Дополнительные фильтры
Всего найдено
2
Автор
Удалить
Журнал
Удалить
Ключевые слова
Удалить
Добавить фильтр
01.01.1970
Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей
В. Г. Лысенко; В. В. Соловьев; П. Н. Лускинович; С. Ю. Золотаревский; К. Л. Губский
Название журнала на русском
01.01.1970
Метрологическое обеспечение координатных оптико-электронных измерений
Н. Х. Голыгин; В. Г. Лысенко; В. А. Хижняков
Название журнала на русском
Страница 1 из 1
1
Ваше имя
Название журнала
Телефон
Контактный email
Адрес сайта журнала (если есть)
Даю согласие на обработку моих персональных данных