Вопросы радиоэлектроники. 2019; 1: 117-121
АНАЛИЗ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ В МОДЕЛЯХ УПРАВЛЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ
https://doi.org/10.21778/2218-5453-2019-7-117-121Аннотация
Определены особенности технологии современного производства радиоэлектронных средств и требования к моделям управления технологическими процессами в соответствии с особенностями производства. Показана роль анализа чувствительности в разработке моделей управления. Рассмотрены традиционно применяемые показатели чувствительности и методы их оценки. Показана ограниченность их применения ввиду большой номенклатуры продукции, изменчивости технологии производства радиоэлектронных средств, нелинейности динамики технологических процессов и недостаточности статистических данных. Предложен алгоритм вычисления нечетких показателей чувствительности с использованием семейства распределений Джонсона, который позволяет учесть имеющуюся информацию и может оперативно корректироваться в процессе управления технологическими процессами при поступлении новых данных. Применение алгоритма эффективно в условиях неопределенности динамики технологических процессов, неконтролируемости возмущений и недостаточности статистических данных.
Список литературы
1. Вершинина Л.П., Вершинин М.И. Адаптивное управление термическими операциями в условиях наукоемкого про изводства // Вопросы радиоэлектроники. 2017. № 5. С. 16–19.
2. Ивановский Р.И. Прикладные аспекты теории чувствительности // Научно-технические ведомости СПбГПУ. 2011. № 6. С. 102–110.
3. Глаголев М.В. Анализ чувствительности модели // Динамика окружающей среды и глобальные изменения климата. 2012. Т. 3. № 3. C. 31–53.
4. Соболь И.М. Об оценке чувствительности нелинейных математических моделей // Математическое моделирование. 1990. Т. 2. № 5. С. 112–118.
5. Соболь И.М. Глобальные показатели чувствительности для изучения нелинейных математических моделей // Мате матическое моделирование. 2005. Т. 7. № 9. С. 43–52.
6. Варжапетян А.Г., Вершинина Л.П. Обеспечение качества построения имитационных моделей электронных схем // Электронная техника. 1984. Вып. 4 (109). С. 13–17.
7. Богданов Ю.И. Анализ вариаций и построение контрольных карт в микроэлектронике // Микроэлектроника. 1995. Т. 24. № 26. С. 435–446.
8. Нечеткие множества и теория возможностей / под ред. Р.Р. Ягера. М.: Радио и связь, 1986. 407 с.
9. Джонсон Н.Л., Коц С., Балакришнан Н. Одномерные непрерывные распределения. Ч. 1. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. 703 с.
10. Хан Г., Шапиро С. Статистические модели в инженерных задачах. М.: Мир, 1969. 398 с.
Issues of radio electronics. 2019; 1: 117-121
SENSITIVITY ANALYSIS IN MODELS OF TECHNOLOGICAL PROCESSES CONTROL
https://doi.org/10.21778/2218-5453-2019-7-117-121Abstract
Features of technology of modern production of radio-electronic means and requirements to models of management of technological processes according to features of production are defined. The role of sensitivity analysis in the development of control models is shown. Traditionally applied sensitivity indices and methods of their estimation are considered. The limitations of their application due to the large range of products, the variability of the production technology of radio-electronic means, the non-linearity of the dynamics of technological processes and the lack of statistical data are shown. An algorithm for calculating fuzzy sensitivity parameters using a family of Johnson distributions is proposed. The application of the algorithm is effective in conditions of uncertainty of technological processes’ dynamics, uncontrollability of disturbances and insufficiency of statistical data.
References
1. Vershinina L.P., Vershinin M.I. Adaptivnoe upravlenie termicheskimi operatsiyami v usloviyakh naukoemkogo pro izvodstva // Voprosy radioelektroniki. 2017. № 5. S. 16–19.
2. Ivanovskii R.I. Prikladnye aspekty teorii chuvstvitel'nosti // Nauchno-tekhnicheskie vedomosti SPbGPU. 2011. № 6. S. 102–110.
3. Glagolev M.V. Analiz chuvstvitel'nosti modeli // Dinamika okruzhayushchei sredy i global'nye izmeneniya klimata. 2012. T. 3. № 3. C. 31–53.
4. Sobol' I.M. Ob otsenke chuvstvitel'nosti nelineinykh matematicheskikh modelei // Matematicheskoe modelirovanie. 1990. T. 2. № 5. S. 112–118.
5. Sobol' I.M. Global'nye pokazateli chuvstvitel'nosti dlya izucheniya nelineinykh matematicheskikh modelei // Mate maticheskoe modelirovanie. 2005. T. 7. № 9. S. 43–52.
6. Varzhapetyan A.G., Vershinina L.P. Obespechenie kachestva postroeniya imitatsionnykh modelei elektronnykh skhem // Elektronnaya tekhnika. 1984. Vyp. 4 (109). S. 13–17.
7. Bogdanov Yu.I. Analiz variatsii i postroenie kontrol'nykh kart v mikroelektronike // Mikroelektronika. 1995. T. 24. № 26. S. 435–446.
8. Nechetkie mnozhestva i teoriya vozmozhnostei / pod red. R.R. Yagera. M.: Radio i svyaz', 1986. 407 s.
9. Dzhonson N.L., Kots S., Balakrishnan N. Odnomernye nepreryvnye raspredeleniya. Ch. 1. M.: BINOM. Laboratoriya znanii, 2010. 703 s.
10. Khan G., Shapiro S. Statisticheskie modeli v inzhenernykh zadachakh. M.: Mir, 1969. 398 s.
