Радиопромышленность. 2017; 27: 146-150
ПОВЫШЕНИЕ ЦЕННОСТИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОСИСТЕМОТЕХНИКИ
https://doi.org/10.21778/2413-9599-2017-4-146-150Аннотация
В статье рассматриваются вопросы определения ценности изделий микросистемотехники с позиций как интегральной потребительской ценности, так и внутренних ее аспектов, относящихся к созданию методики оценки отдельных составляющих ценности. Изделия микросистемотехники относятся к классу высоконадежных изделий, для которых практически неприменимы существующие методы оценки надежности. Описаны преимущества создания изделий микросистемотехники, и предложен метод оценки, учитывающий факторы деградации структуры, разработанный в процессе проведения в ОАО «Авангард» ОКР «Свинец» по исследованию применения бессвинцовых паяных соединений компонентов радиоэлектронных систем.
Список литературы
1. ГОСТ Р 55.0.01–2014/ИСО 55001:2014. Управление активами. Общее представление, принципы и терминология. М.: Стандартинформ, 2016. 15 с.
2. ГОСТ Р 55.0.02–2014/ИСО 55001:2014. Управление активами. Системы менеджмента. Требования. М.: Стандартинформ, 2016. 15 с.
3. ГОСТ Р 55.0.03–2014/ИСО 55001. Управление активами. Системы менеджмента. Руководство по применению ISO 55001 М:. Стандартинформ, 2016. 15 с.
4. Антохина Ю. А., Варжапетян А. Г., Семенова Е. Г. Ценностно-ориентированное управление инновационными проектами // Вопросы радиоэлектроники. 2017. № 5. С. 50–54.
5. Batkovskiy A. M., Fomina A. V., Semenova E. G., Khrustalev E. Yu., Khrustalev O. E. The methodology and mathematical tools to assess and mitigate the risk of creating high-tech products. Indian Journal of Science and Technology, 2016, vol. 9, no. 28, pp. 230–241.
6. Стратегия развития российской радиоэлектронной промышленности до 2030 г. [Электронный ресурс]. URL: http://www.cnews.ru/news/line/minpromtorg_predstavil_strategiyu_razvitiya (дата обращения: 04.05.2017)
7. Прогноз долгосрочного социально-экономического развития Российской Федерации до 2030 года. URL: http://www. consultant.ru/document/cons_doc_LAW_144190/ (дата обращения: 18.05.17)
8. Баранник И., Белогубов Ю., Иванов Н. Центр микросистемотехники. Передовые инженерные решения // Электроника НТБ. 2014. № 4. С. 130–138.
9. Гусев А., Лидский Э., Мироненко О. Малые выборки при оценке работоспособности и надежности электронных компонентов. Ч. 1 // ChipNews. 2002. № 1. С. 52–55.
10. Горлов М. И., Емельянов В. А., Строгонов A. B. Геронтология кремниевых интегральных схем. М.: Наука. 2004. 240 с.
11. Atmel Reliability Monitor Report, 2016. Available at: http://www.atmel.com/ru/ru/about/quality/reliability.aspx (accessed 05.05.17)
12. АСРН (Автоматизированная система расчета надежности) ЦНИИИ 22 МО [Электронный ресурс]. URL: http://capitaldownloadfast.weebly.com/blog/ (дата обращения: 04.05.2017)
13. Грибов В. М., Кофанов Ю. Н., Стрельников В. П. Оценивание и прогнозирование надежности бортового аэрокосмического оборудования. М.: НИУ ВШЭ, 2013. 495 с.
14. ГОСТ 27.005–97. Надежность в технике. Модели отказов. Основные положения. Минск: Госстандарт РБ, 2005. 45 с.
15. Варжапетян А. Г., Иванов Н. Н., Стрельников В. П. Оценка долговечности паяных соединений с применением диффузионного немонотонного распределения // Надежность. 2012. № 4. С. 46–52.
16. Стрельников В. П., Федухин А. В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. Киев: Логос, 2002. 486 с.
17. Федухин А. В., Сеспедес-Гарсия Н. В. Моделирование надежности восстанавливаемой системы с «холодным» резервом // Математические машины и системы. 2007. № 1. С. 144–150.
Radio industry (Russia). 2017; 27: 146-150
IMPROVING THE VALUE OF PRODUCTS OF MICROSYSTEM TECHNOLOGY
https://doi.org/10.21778/2413-9599-2017-4-146-150Abstract
The article examines the issues of determining the value of products of microsystems, both from the standpoint of the integral consumer value, and its internal aspects related to the creation of a methodology for assessing individual components of value. Products microsystems belong to the class of highly reliable products, for which practically existing methods of reliability assessment are not applicable. The article discusses the advantages of creating products of microsystems and proposes an evaluation method that takes into account the factors of structure degradation developed in the process of carrying out lead-free soldered joints of components of radio electronic systems at OJSC Avangard.
References
1. GOST R 55.0.01–2014/ISO 55001:2014. Upravlenie aktivami. Obshchee predstavlenie, printsipy i terminologiya. M.: Standartinform, 2016. 15 s.
2. GOST R 55.0.02–2014/ISO 55001:2014. Upravlenie aktivami. Sistemy menedzhmenta. Trebovaniya. M.: Standartinform, 2016. 15 s.
3. GOST R 55.0.03–2014/ISO 55001. Upravlenie aktivami. Sistemy menedzhmenta. Rukovodstvo po primeneniyu ISO 55001 M:. Standartinform, 2016. 15 s.
4. Antokhina Yu. A., Varzhapetyan A. G., Semenova E. G. Tsennostno-orientirovannoe upravlenie innovatsionnymi proektami // Voprosy radioelektroniki. 2017. № 5. S. 50–54.
5. Batkovskiy A. M., Fomina A. V., Semenova E. G., Khrustalev E. Yu., Khrustalev O. E. The methodology and mathematical tools to assess and mitigate the risk of creating high-tech products. Indian Journal of Science and Technology, 2016, vol. 9, no. 28, pp. 230–241.
6. Strategiya razvitiya rossiiskoi radioelektronnoi promyshlennosti do 2030 g. [Elektronnyi resurs]. URL: http://www.cnews.ru/news/line/minpromtorg_predstavil_strategiyu_razvitiya (data obrashcheniya: 04.05.2017)
7. Prognoz dolgosrochnogo sotsial'no-ekonomicheskogo razvitiya Rossiiskoi Federatsii do 2030 goda. URL: http://www. consultant.ru/document/cons_doc_LAW_144190/ (data obrashcheniya: 18.05.17)
8. Barannik I., Belogubov Yu., Ivanov N. Tsentr mikrosistemotekhniki. Peredovye inzhenernye resheniya // Elektronika NTB. 2014. № 4. S. 130–138.
9. Gusev A., Lidskii E., Mironenko O. Malye vyborki pri otsenke rabotosposobnosti i nadezhnosti elektronnykh komponentov. Ch. 1 // ChipNews. 2002. № 1. S. 52–55.
10. Gorlov M. I., Emel'yanov V. A., Strogonov A. B. Gerontologiya kremnievykh integral'nykh skhem. M.: Nauka. 2004. 240 s.
11. Atmel Reliability Monitor Report, 2016. Available at: http://www.atmel.com/ru/ru/about/quality/reliability.aspx (accessed 05.05.17)
12. ASRN (Avtomatizirovannaya sistema rascheta nadezhnosti) TsNIII 22 MO [Elektronnyi resurs]. URL: http://capitaldownloadfast.weebly.com/blog/ (data obrashcheniya: 04.05.2017)
13. Gribov V. M., Kofanov Yu. N., Strel'nikov V. P. Otsenivanie i prognozirovanie nadezhnosti bortovogo aerokosmicheskogo oborudovaniya. M.: NIU VShE, 2013. 495 s.
14. GOST 27.005–97. Nadezhnost' v tekhnike. Modeli otkazov. Osnovnye polozheniya. Minsk: Gosstandart RB, 2005. 45 s.
15. Varzhapetyan A. G., Ivanov N. N., Strel'nikov V. P. Otsenka dolgovechnosti payanykh soedinenii s primeneniem diffuzionnogo nemonotonnogo raspredeleniya // Nadezhnost'. 2012. № 4. S. 46–52.
16. Strel'nikov V. P., Fedukhin A. V. Otsenka i prognozirovanie nadezhnosti elektronnykh elementov i sistem. Kiev: Logos, 2002. 486 s.
17. Fedukhin A. V., Sespedes-Garsiya N. V. Modelirovanie nadezhnosti vosstanavlivaemoi sistemy s «kholodnym» rezervom // Matematicheskie mashiny i sistemy. 2007. № 1. S. 144–150.
